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PROCÉDURE DE TEST POUR CIRCUITS INTÉGRÉS (MICROÉLECTRONIQUE)
  • BT
    CIRCUITS INTÉGRÉS, MICROÉLECTRONIQUE, CONSTRUCTION MÉCANIQUE DES CIRCUITS, CIRCUITS IMPRIMÉS, TESTS (ÉLECTROTECHNIQUE)
  • UDC
    621.3.049.2
  • Descriptor GER
    TESTVERFAHREN FÜR INTEGRIERTE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
  • Descriptor ENG
    TESTING PROCEDURE FOR INTEGRATED CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Descriptor FRE
    PROCÉDURE DE TEST POUR CIRCUITS INTÉGRÉS (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    BOUNDARY-SCAN TEST, BST (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    TEST DU SIGNAL MÉLANGÉ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    CONTRÔLE IDDQ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    TESTS EN LIGNE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    SELF-TEST + TEST AUTOMATIQUE + AUTOCONTRÔLE, BIST (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    PROCÉDURES DE TESTS POUR CIRCUITS COMPLEXES (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MICROÉLECTRONIQUE)
  • NT
    GÉNÉRATION DE MOTIFS DE CONTRÔLE (MICROÉLECTRONIQUE)
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Last data import from Alma: 1 January 2025