CIRCUITS INTÉGRÉS, MICROÉLECTRONIQUE, CONSTRUCTION MÉCANIQUE DES CIRCUITS, CIRCUITS IMPRIMÉS, TESTS (ÉLECTROTECHNIQUE)

BOUNDARY-SCAN TEST, BST (MICROÉLECTRONIQUE)

TEST DU SIGNAL MÉLANGÉ (MICROÉLECTRONIQUE)

CONTRÔLE IDDQ (MICROÉLECTRONIQUE)

TESTS EN LIGNE (MICROÉLECTRONIQUE)

SELF-TEST + TEST AUTOMATIQUE + AUTOCONTRÔLE, BIST (MICROÉLECTRONIQUE)

PROCÉDURES DE TESTS POUR CIRCUITS COMPLEXES (MICROÉLECTRONIQUE)

STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MICROÉLECTRONIQUE)

GÉNÉRATION DE MOTIFS DE CONTRÔLE (MICROÉLECTRONIQUE)