TEST DU SIGNAL MÉLANGÉ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • BT
    PROCÉDURE DE TEST POUR CIRCUITS INTÉGRÉS (MICROÉLECTRONIQUE)
  • UDC
    621.3.049.2,8
  • Descriptor GER
    GEMISCHTER SIGNALTEST (MIKROELEKTRONIK)
  • Descriptor ENG
    MIXED SIGNAL TEST (MICROELECTRONICS)
  • Descriptor FRE
    TEST DU SIGNAL MÉLANGÉ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant GER
    TEST/MIXED SIGNALTEST (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    MIXED SIGNALTEST (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    SIGNALTEST/GEMISCHTER SIGNALTEST (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant ENG
    TEST/MIXED SIGNAL TEST (MICROELECTRONICS)
  • Variant FRE
    MIXÉ/TEST DU SIGNAL MIXÉ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    TEST DU SIGNAL MIXÉ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    MÉLANGÉ/TEST DU SIGNAL MÉLANGÉ (MICROÉLECTRONIQUE)
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Last data import from Alma: 1 January 2025