STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MICROÉLECTRONIQUE)
  • BT
    PROCÉDURE DE TEST POUR CIRCUITS INTÉGRÉS (MICROÉLECTRONIQUE)
  • UDC
    621.3.049.2,7
  • Descriptor GER
    STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MIKROELEKTRONIK)
  • Descriptor ENG
    STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MICROELECTRONICS)
  • Descriptor FRE
    STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant GER
    STIL/STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant ENG
    STIL/STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE (MICROELECTRONICS)
  • Variant FRE
    STIL/STANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE (MICROÉLECTRONIQUE)
Contact
·
Last data import from Alma: 1 January 2025