IDDQ TESTING (MICROELECTRONICS)
  • BT
    TESTING PROCEDURE FOR INTEGRATED CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • UDC
    621.3.049.2,6
  • Descriptor GER
    IDDQ PRÜFUNG (MIKROELEKTRONIK)
  • Descriptor ENG
    IDDQ TESTING (MICROELECTRONICS)
  • Descriptor FRE
    CONTRÔLE IDDQ (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant GER
    PRÜFUNG/IDDQ PRÜFUNG (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant ENG
    TESTING/IDDQ TESTING (MICROELECTRONICS)
  • Variant FRE
    IDDQ/CONTRÔLE IDDQ (MICROÉLECTRONIQUE)
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Last data import from Alma: 1 January 2025