TEST PATTERN GENERATIONS (MICROELECTRONICS)
  • BT
    TESTING PROCEDURE FOR INTEGRATED CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • UDC
    621.3.049.2,1
  • Descriptor GER
    TESTMUSTERGENERIERUNG (MIKROELEKTRONIK)
  • Descriptor ENG
    TEST PATTERN GENERATIONS (MICROELECTRONICS)
  • Descriptor FRE
    GÉNÉRATION DE MOTIFS DE CONTRÔLE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant GER
    FEHLERSIMULATION (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    SIMULATION/FEHLERSIMULATION (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    GENERIERUNG/TESTMUSTERGENERIERUNG (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant ENG
    SIMULATION/FAULT SIMULATIONS (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant ENG
    FAULT SIMULATIONS (MICROELECTRONICS)
  • Variant ENG
    GENERATIONS/TEST PATTERN GENERATIONS (MICROELECTRONICS)
  • Variant FRE
    MOTIFS/GENERATION DE MOTIFS DE CONTROLE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    CONTRÔLE/GENERATION DE MOTIFS DE CONTRÔLE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    SIMULATION DE DÉFAUTS (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    DÉFAUTS/SIMULATION DE DÉFAUTS (MICROÉLECTRONIQUE)
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