SIGNATURE ANALYSIS, COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • BT
    TESTING PROCEDURE FOR INTEGRATED CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • UDC
    621.3.049.2,2
  • Descriptor GER
    SIGNATURANALYSE, KOMPLEXE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
  • Descriptor ENG
    SIGNATURE ANALYSIS, COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Descriptor FRE
    PROCÉDURES DE TESTS POUR CIRCUITS COMPLEXES (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant GER
    TESTS/ZUFALLTESTS (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    ZUFALLSTESTS (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    TESTVERFAHREN FUER KOMPLEXE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant GER
    ANALYSE/SIGNATURANALYSE, KOMPLEXE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
  • Variant ENG
    RANDOM TESTING (MICROELECTRONICS)
  • Variant ENG
    TESTING/RANDOM TESTING, COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Variant ENG
    TEST PROCEDURES FOR COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Variant ENG
    ANALYSIS/SIGNATURE ANALYSIS, COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Variant ENG
    TESTS/TEST PROCEDURE FOR COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Variant ENG
    PROCEDURES/TEST PROCEDURES FOR COMPLEX CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
  • Variant FRE
    ANALYSE/DE SIGNATURE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    TEST DE SIGNATURE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    CONTROLE DE SIGNATURE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    TESTS/PROCÉDURES DE, POUR CIRCUITS COMPLEXES (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    SIGNATURE/ANALYSE, CONTROLE, TEST DE (MICROÉLECTRONIQUE)
  • Variant FRE
    CIRCUITS/COMPLEXES, PROCÉDURES DE TESTS POUR LES (MICROÉLECTRONIQUE)
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Last data import from Alma: 1 January 2025