TESTVERFAHREN FÜR INTEGRIERTE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
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BTINTEGRIERTE-, ELEKTRONISCHE SCHALTUNGEN, MIKROELEKTRONIK, MECHAN. AUFBAU VON SCHALTUNGEN, LEITERPLATTEN, TESTS (ELEKTROTECHNIK)
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UDC621.3.049.2
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Descriptor GERTESTVERFAHREN FÜR INTEGRIERTE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
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Descriptor ENGTESTING PROCEDURE FOR INTEGRATED CIRCUITS (MICROELECTRONICS)
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Descriptor FREPROCÉDURE DE TEST POUR CIRCUITS INTÉGRÉS (MICROÉLECTRONIQUE)
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NTBOUNDARY-SCAN TEST, BST (MIKROELEKTRONIK)
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NTGEMISCHTER SIGNALTEST (MIKROELEKTRONIK)
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NTIDDQ PRÜFUNG (MIKROELEKTRONIK)
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NTONLINE TESTS (MIKROELEKTRONIK)
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NTSELBSTTEST, BIST (MIKROELEKTRONIK)
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NTSIGNATURANALYSE, KOMPLEXE SCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK)
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NTSTANDARD TEST INTERFACE LANGUAGE, STIL (MIKROELEKTRONIK)
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NTTESTMUSTERGENERIERUNG (MIKROELEKTRONIK)